Conducting GIWAXs measurements at the synchrotron

[17-18/06/68]  นิสิตปริญญาเอก นายณกรณ์ เห็นจงชม และ นายปรัชญ์ตระกูล เกาะกิ่ง ห้องปฏิบัติการวิจัย Nano-PV เข้าเยี่ยมชมและปฏิบัติการทดลองใช้เทคนิค Grazing Incidence Wide-Angle X-ray Scattering (GIWAXs) ที่สถาบันวิจัยแสงซินโครตรอน จังหวัดนครราชสีมา ประเทศไทย
ในการเยี่ยมชมครั้งนี้ นิสิตระดับปริญญาเอกได้มีโอกาสฝึกปฏิบัติจริงในการวัดลักษณะเฉพาะของวัสดุด้วยเทคนิคขั้นสูง และวิเคราะห์ข้อมูลด้วยเทคนิค GIWAXS โดยเน้นศึกษาการเปลี่ยนแปลงของโครงสร้างผลึกของวัสดุเพอรอฟสไกท์แบบไฮบริด ทั้งในแนวระนาบ (in-plane) และตั้งฉาก (out-of-plane) โดยเฉพาะในระบบที่เสริมด้วยเกลือ 2 มิติ (2D salts) และเพอรอฟสไกท์อนินทรีย์ทั้งหมด การฝึกปฏิบัตินี้ช่วยให้นิสิตเข้าใจเชิงลึกเกี่ยวกับพฤติกรรมผลึกของวัสดุกึ่งตัวนำรุ่นใหม่ และการออกแบบบริเวณรอยต่อของวัสดุเพื่อประสิทธิภาพสูงในเซลล์แสงอาทิตย์เพอรอฟาไกท์

[17-18 June 2025] Mr. Nakorn Henjongchom and Mr. Prachtrakool Koking, Ph.D. students from the Nano-PV Research Laboratory, visited and conducted experiments using the Grazing Incidence Wide-Angle X-ray Scattering (GIWAXS) technique at the Synchrotron Light Research Institute (SLRI), Nakhon Ratchasima, Thailand.

During this visit, the Ph.D. students gained hands-on experience in advanced materials characterization and data analysis using the GIWAXS technique. They investigated structural changes in hybrid perovskite materials, both in-plane and out-of-plane orientations, with a particular focus on systems enhanced by 2D salts and all-inorganic perovskites. This opportunity provided valuable insight into the crystallographic behavior of emerging semiconductor materials and their interface engineering for high-performance optoelectronic applications.

 

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *